ZX8816拥有1000Vdc脉冲电压与200MHz高速采样率,可测试0.1uH~100uH范围感量产品,具有波形面积比较、波形面积差比较、波形颤动侦测、波形二次微分侦测、波峰降比侦测及自谐振共振波面积比等判定功能,可有效检测线圈自体绝缘不良,能满足大部分功率电感测试需求。
脉冲电压范围 10V ~ 1000V,0.25V测量解析度
高速采样测试,***快18ms
具有接触检查功能
自动电感测试档位选择功能
四端测量功能,施加到电感上的电压更准确
具有电感差异电压补偿功能
脉冲测试高取样率(200MHz), 10 bits
崩溃电压分析功能(BDV)
中英文操作界面
U盘存储振荡波形功能
设置条件自动保存,下次开机自动调用
型号 | ZX8816 | |
基本参数 | ||
电压峰值 | 10V ~ 1000V | |
测试电感范围 | 0.1uH ~ 100 uH | |
电压精度 | ±(1% *设定电压 + 2.0 V) | |
采样率 | 10bits, 200MHz | |
采样档位 | 8档:0,1,2,3,4,5,6,7 | |
脉冲数 | 测试脉冲数:1 ~ 32; 激励脉冲数:0 ~ 9 | |
波形显示范围 | 512*256点 | |
侦测模式 | 波形面积比较、波形面积差比较、波形颤动侦测、波形二次微分侦测、波峰降比侦测及自谐振共振波面积比 | |
测试速度 | ***快18ms(Pulse = 1.0,自体谐振关闭时) | |
分选指示 | 合格/不合格 报警(蜂鸣器 和LED指示) | |
接口 | ||
接口 | RS232, HANDLER接口 | |
电源及尺寸 | ||
功耗 | 空载: < 150W 带载: < 1000W | |
电源 | 100 ~ 240 VAC, 50/60 Hz | |
尺寸(W*H*D) | 430mm* 180mm**500mm | |
重量 | 28 kg | |
ZX8816: 小电感脉冲线圈测试仪
主要测试原理
电感脉冲线圈测试仪是在不损坏被测件的条件下测试其电气性能。仪器能在短暂的瞬间判别线圈的品质。测量时将与标准线圈测试时同样的脉冲通过电容器放电施加于被测线圈,由于线圈电感量和Q致的存在,将响应一个对应与该放电脉冲的电压衰减波形。比较该衰减波形的某些特征,可以检测线圈匝间和层间短路及圈数和磁性材料的差异,通过施加一个高压脉冲,根据波形出现的颤动量和二次微分来判断被测电感是否存在绝缘不良。
Vo: 仪器内部电压
Ri: 仪器内部电阻
Ci:仪器内部电容
Cc: 仪器内部谐振电容
Cw: 绕线元件的杂散/寄生电容
R: 绕线元件的等效并联电阻
Rp检测
脉冲测试时,将开关SW闭合,电容器放电施加电压于被测线圈。脉冲测试结束后,将开关SW开路,此时仪器检测自体谐振波形。仪器通过比较自体谐振波形中***个正向波峰的峰值与第二个正向波峰的峰值的衰减速度及比例差异来检测出异常产品。波峰比的值越大表示Rp的值也越大,相对的Q值也会比较高。
波形判定模式
1. 波形面积比较(Area Size)
在任意指定的A~B区间内对被测线圈测试波形面积进行积分,并与标准波形在此区间内的面积进行比较,用这两个波形面积的差异值与标准波形在此区间的面积的百分比作为判定依据,判定基准用百分比来设定。
波形面积近似的与能量损失成正比,所以可以使用面积比较方法来判断线圈中的能量损耗,有效的检测线圈层间和匝间短路。
2. 波形面积差比较(Differential Area)
在任意指定A~B 区间内对被测线圈测试波形和标准波形的Y 轴方向的差异值进行计算(积分计算的结果为A~B 区间内的阴影部分)和标准波形在此区间的面积比较,基准用百分比来设定。
3. 波形颤动检测(Flutter Detection)
在任意指定A~B 区间内对波形进行一阶微分,计算出波形的总放电量,再与标准波形的总放电量进行比较
4. 波形放电量二次微分检测(Laplacian Value)
在任意指定A~B 区间内对波形进行二阶微分,与标准波形对应区间内的二次微分进行比较,可以检测出因电气放电或电极焊接不良引起波形快速变化的现象。
5. 波峰比检测(Peak Ratio)
在崩溃电压分析(BDV)模式下,用待测物自体谐振波形的第二个正向波峰的峰值与***个正向波峰的峰值计算波峰比。利用波峰比可评价被测件是否过度劣化。
6. 波峰降比检测(△Peak Ratio)
在脉冲测试(IWT)模式下,将被测物自体谐振波形的第二个正向波峰的峰值与***个正向波峰的峰值计算波峰比,并将该波峰比与标准品的波峰比进行比较。如果被测件与样品的波峰比相同,则△Peak Ratio将会等于0%。△Peak Ratio为被测件与标准品的波峰比差所占样品的波峰下降比的比例。公式如下:
波峰差异比是并联电阻所造成能量衰减的差异,所以可以利用波峰差异比来判定并联电阻Rp是否异常。
7. 共振面积比较(△Resonant Area)
在脉冲测试(IWT)模式下,开关SW1断开后,被测件所产生的自体谐振波形与标准样品的自体谐振波形总面积进行比较。如果待测物的线圈绝缘与标准品接近,则共振面积应该与标准品面积接近;如果待测物的线圈绝缘不良,则共振波形会快速衰减,共振面积也会相对较小。
低感量线圈
贴片功率电感
AI GPU显卡功率电感测试
T-CORE+热压大电流一体成型电感
1. 手工测试
本仪器不仅能测试小到0.1uH的电感,还可测试高达100uH的电感。相当于单台匝间测试仪器就可以测量低感量和较高感量的电感匝间脉冲测试。电感产品开发设计阶段可用该仪器进行产品性能评估。
2. 自动化测试
本仪器采用高速测量功能,测试速度可达18ms,同时采用双同轴四线测量方式降低测试线长度的影响,可直接在匝间测试自动机上应用,为客户自动化生产降本增效。
3. 崩溃电压分析BDV
本仪器提供崩溃电压分析功能,设定起始电压与结束电压及电压上升比例,利用电压上升过程波形面积比侦测、二次微分侦测及波峰比侦测来判定被测件的测试值是否超过设定值,测试出线圈可承受耐电压的强度。根据这些功能,研究人员可以对产品进行分析与研究,针对线圈较弱的地方做改善。
特色技术
1. 四端测量技术
传统的脉冲线圈匝间测试仪电压检测模块检测的是被测件与测试线上的电压,而对于低电感被测物,测得的电压值与实际被测物上的值有很大差异。为了解决施加电压与被测物电压的差异,本仪器采用了四端测量技术,减少了实测电压值与被测物上实际电压的差异,可达到理想的测试效果。
2. 接触检查
本仪器在高压输出前,先对测试端进行接触检查,检测测试端是否夹有合适的电感。只有检测到合适的电感,仪器才输出高压。这样可以避免因接触不良或开路使得内部以***大电压输出造成治具端探针打火,进而导致待测物收到损伤。这样做可以延长探针使用寿命。
另外,本仪器可以测量被测物的电感值,可以剔除掉被测物电感值与标准件电感值差异较大的电感。
3. 电感自动量程
开始测试时,本仪器先进行电感测量,根据测得的电感值自动选择合适的电感量程,使得被测电感在适当的波形下进行对比测试。本测试仪可测试0.1uH~100uH的电感,可以满足较小电感的匝间测试需求,也可以覆盖大部分的较大电感的匝间测试需求。
4. 电压补偿功能
在针对感量较大的电感进行测试时,测试线的等效感量相对较小,但在测量低感量时,低感量待测物(如0.5uH)会因测试线等效感量会影响被测物上实际电压。过高的测试线阻抗会使得低感量测试时电压分压在测试线上,导致被测物上的电压低于设定值而无法有效检测出不良品。同时,根据通用的电感产品的规格书,电感值的***高误差可达正负30%,因此在低感量测试应用时,会因待测物感量变化而造成电感两端电压差异更加明显,导致波形面积判定失效或测试电压未达到测试要求的电压。因此,本仪器提供电压补偿功能,降低因感量差异造成电感上实际电压的差异,从而降低误判的可能性。
仪器主要界面
1.标准采样页面(仅谐振波形)
2.标准采样页面(谐振波形和自谐振波形)
3.脉冲线圈测量显示页面(谐振波形和自谐振波形)
4.崩溃电压分析(BDV)页面
5.HANDLE接口
上述时序图对应的测试条件:脉冲间隔:10ms, 脉冲1.0,触发延时:OFF,自谐振波形关闭,仪器没有接收任何远程控制命令。屏幕显示不占用测量和判别时间。
如果触发延时时间T2设为0,则从触发信号有效到ACQ或EOT信号变低,时间为:
ACQ = T2 + T3 + T4 = 20ms
EOT = T2 + T3 + T5 = 40ms